文章目录

1 角分辨光电子能谱简介

1.1 基本原理

1.2 实验装置

1.3 数据采集与分析

2 微区角分辨光电子能谱的设计与实现

3 实验研究进展

3.1 铁基超导体KxFe2-ySe2的电子相分离现象

3.2 反铁磁拓扑绝缘体MnBi2Te4/Bi2Te3超晶

4 结束语

文章摘要:为了深入了解材料体系中奇异宏观现象的机理（如强关联材料的相分离现象、二维材料的层数依赖性质,以及转角石墨烯的超导电性等）,需要发展具有较高空间分辨率的局域电子结构探测技术.微区角分辨光电子能谱通过缩小传统角分辨光电子能谱的入射光斑尺寸,能够实现亚微米级的实空间分辨率,从而探测空间不均匀材料体系的精细电子结构.本文从微区角分辨光电子能谱的基本原理出发,介绍了清华大学针对实验设备的设计和搭建工作,并探究了铁基超导体K_xFe_2-ySe₂的电子相分离现象和反铁磁拓朴绝缘体MnBi₂Te₄/Bi₂Te₃超晶格体系的表面态电子结构.

文章关键词:

论文DOI:10.19655/j.cnki.1005-4642.2021.11.001

论文分类号:TB302